四探针测试仪测量电阻率
发布网友
发布时间:2024-10-23 17:53
我来回答
共1个回答
热心网友
时间:2024-11-05 10:46
四探针测试仪在半导体材料的电阻率测量中扮演着重要角色,作为标准方法,其以设备简便、操作便捷和高精度见长,对样品尺寸要求相对宽松。该方法不仅限于电阻率测定,还广泛应用于半导体器件扩散层电阻的测量,以评估其品质是否达标。
四探针测试的历史源远流长,1865年由汤姆森提出原理,1920年首次用于地球电阻率测量,1954年首次应用于半导体领域。随着技术的发展,1980年代出现了具备Mapping技术的四点探针,而1999年则诞生了微观四点探针技术,如ST2258C和ST2263双电测数字式四探针测试仪,分别适用于常规和双电测法。
尽管部分文章信息整合自网络,我们对可能存在的版权问题表示歉意,如有问题,欢迎随时联系我们。感谢您的阅读,若您觉得内容有价值,别忘了给予鼓励,我们会继续提供高质量的内容。祝愿各位科研之路畅通无阻,如需深入了解四探针测试仪,欢迎关注我们的进一步分享。